업무개요
스마트카드(SmartCard)는 집적회로(IC)가 내장된 카드로 그 편리성과 보안이 우수하여, 금융/ID/통신/교통 등 다양한 분야에서 이용되고 있습니다. 우리 연구원은 ISO/IEC 7816, 14443, 10373-6 등 스마트카드 분야 국제공인시험기관(KOLAS)으로 스마트카드 및 관련시스템(단말기 등)의 표준적합성, 내구성, 보안 등에 대한 시험을 수행하고 있습니다.
전자여권(ePassport) 및 판독기 등 ID분야
- 국제민간항공기구(ICAO) 표준적합성시험
- ISO/IEC 10373-6(2001, 2011) 관련시험
- 국제민간항공기구(ICAO) 내구성시험
- 전자여권 및 판독기 노화시험(Aging)
- 전자여권 상호호환성 및 BMT
금융 및 교통카드 분야
- 금융결제원 IC카드 품질인증시험
- 전자화폐(K-CASH) 품질인증시험
- 전자화폐 및 IC카드 단말기 품질인증시험
- 한국도로공사 하이패스카드 품질인증시험
- 모바일 하이패스카드 품질인증시험
스마트카드 및 단말기 국제표준적합성시험
- ISO/IEC 7810/7816 표준적합성시험
- ISO/IEC 14443(1st, 2nd) 표준적합성시험
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- ISO/IEC 10373 스마트카드(ID) 시험
- · Part 1 : General characteristics tests
- · Part 2 : Cards with magnetic stripes
- · Part 3 : Integrated circuit(s) cards with contacts and related devices
- · Part 4 : Proximity cards (PICC/PCD)
품질보증시험(Quality Assurance Tests)
Card Body Tests
- Adhesion / Amplitude / Bending
- Thermal Cycling / Humidity / Dimensions
- Card warpage / Delamination / Dynamic torsion and bending stress
- Electrical resistance and impedance of contacts
- Electromagnetic fields / Embossing character
- Magentic stripe(MS) characteristics test(surface, wear, profile)
- Location of fontacts / Resistance to chemicals
- Static electricity / Surface profile of contacts
- Ultraviolet light / Vibration / X-ray test
Microcontroller Hardware Tests(EN 1292)
- Signal rise and fall times I/O contacts
- number of possible write/erase cycles in EEPROM/FLASH memory
- Vcc over and undervoltage tests
- Clock over and underfrequency tests
- Vcc/Reset/Clock current consumption
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